電子產(chǎn)品砂塵試驗(yàn)箱操作注意事項

1.非腐蝕性細(xì)塵。主要用于檢測樣品的密封性能。試驗(yàn)樣品暴露于其它類似的非常細(xì)小的塵中。可再現(xiàn)由于溫度交變引起的樣品內(nèi)外氣壓不同而造成的影響。

2.自由降塵。電子產(chǎn)品砂塵試驗(yàn)箱用于模擬有防護(hù)場所中砂塵的影響。樣品暴露于低密度含塵大氣中，其中有間歇性的少量塵注入，并由于重力作用會降落到樣品上。

3.吹沙塵。主要用于模擬戶外和車載環(huán)境條件下砂塵對樣品的密封性能和腐蝕影響。樣品暴露在夾帶了一定量塵、沙或沙塵混合物的層流氣流中。

4.試驗(yàn)用塵是干燥的非腐蝕性的細(xì)粉塵，能夠通過篩孔為75um，金屬絲直徑為50um的平面網(wǎng)狀篩。試驗(yàn)用塵使用次數(shù)不應(yīng)超過20次。應(yīng)維持干燥以保持粉塵細(xì)度，使用前應(yīng)在80度下烘干2H。

5.應(yīng)使樣品暴露于垂直的非層流且含有規(guī)定數(shù)量的塵氣流中。所以應(yīng)攪拌試驗(yàn)用塵并且吹入密封試驗(yàn)箱。樣品體積不應(yīng)超過試驗(yàn)箱體積的25%，樣品底座不應(yīng)超過試驗(yàn)箱工作空間水平面積的50%。